Назначение:
- Изучение основных законов фотоэффекта;
- Получение вольтамперной характеристики вакуумного фотоэлемента;
- Определение постоянной Планка;
- Изучение зависимости фототока от величины светового потока
Установка включает в себя источник света, вакуумный фотоэлемент, усилитель постоянного тока и пять светофильтров, которые могут поочередно устанавливаться перед фотоэлементом. Изменение светового потока, который попадает на фотоэлемент, осуществляется как при регулировании яркости осветителя, так и за счет изменения расстояния между осветителем и линзой, фокусирующей свет на поверхности фотокатода.
В работе проводится построение на экране семейства вольтамперных характеристик фотоэлемента, снятых при различных частотах падающего на фотоэлемент светового излучения, регистрация зависимости напряжения запирания фотоэлемента от частоты излучения, а также получение зависимости фототока от величины светового потока, попадающего на фотоэлемент. Для определения постоянной Планка задерживающие потенциалы и соответствующие частоты излучения, деленные на заряд электрона, выводятся на график. Экспериментальная зависимость аппроксимируется прямой линией, тангенс угла наклона которой в соответствии с теорией составляет
Назначение:
- Изучение основных законов фотоэффекта;
- Получение вольтамперной характеристики вакуумного фотоэлемента;
- Определение постоянной Планка;
- Изучение зависимости фототока от величины светового потока
Установка включает в себя источник света, вакуумный фотоэлемент, усилитель постоянного тока и пять светофильтров, которые могут поочередно устанавливаться перед фотоэлементом. Изменение светового потока, который попадает на фотоэлемент, осуществляется как при регулировании яркости осветителя, так и за счет изменения расстояния между осветителем и линзой, фокусирующей свет на поверхности фотокатода.
В работе проводится построение на экране семейства вольтамперных характеристик фотоэлемента, снятых при различных частотах падающего на фотоэлемент светового излучения, регистрация зависимости напряжения запирания фотоэлемента от частоты излучения, а также получение зависимости фототока от величины светового потока, попадающего на фотоэлемент. Для определения постоянной Планка задерживающие потенциалы и соответствующие частоты излучения, деленные на заряд электрона, выводятся на график. Экспериментальная зависимость аппроксимируется прямой линией, тангенс угла наклона которой в соответствии с теорией составляет
